Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики
Мошников В.А., Спивак Ю.М.
Учеб. пособие СПб.: Изд-во СПбГЭТУ ЛЭТИ, 2009, 80 с. ISBN 978-5-7629-0908-8 Рассматриваются различные методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике
Предназначено для студентов. обучающихся по магистерским образовательным программам "Нанотехнология и диагностика", "Нано-и микросистемная техника". Гриф УМО вузов РФ по образованию в области радиотехники, электроники, биомедицинской техники и автоматизации в качестве учебного пособия для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки 210100 "электроника и микроэлектроника" и 210600 "Нанотехнология"
Предназначено для студентов. обучающихся по магистерским образовательным программам "Нанотехнология и диагностика", "Нано-и микросистемная техника". Гриф УМО вузов РФ по образованию в области радиотехники, электроники, биомедицинской техники и автоматизации в качестве учебного пособия для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки 210100 "электроника и микроэлектроника" и 210600 "Нанотехнология"
Categorias:
Idioma:
russian
ISBN 10:
5762909808
ISBN 13:
9785762909808
Arquivo:
PDF, 3.24 MB
IPFS:
,
russian0